1. Digital integrated circuits :design-for-test using Simulink and Stateflow

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)

موضوع : Testing ، Digital integrated circuits,Design and construction ، Digital integrated circuits

2. Digital system test and testable design

پدیدآورنده :

کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع : Digital integrated circuits, Testing,Digital integrated circuits, Design and construction,Verilog (Computer hardware description language)

رده :
E-BOOK

3. Digital system test and testable design

پدیدآورنده :

کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع : Digital integrated circuits, Testing,Digital integrated circuits, Design and construction,Verilog (Computer hardware description language)

رده :
TK7874
.
N38
2011

4. Digital system test and testable design

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اطلاع رساني دانشگاه شاهد (طهران)

موضوع : Digital integrated circuits, Testing,Digital integrated circuits, Design and construction,Verilog (Computer hardware description language)

رده :
TK
،
7874
،.
N38
،
2011

5. Digital systems testing and testable design

پدیدآورنده :

کتابخانه: (طهران)

موضوع : Digital integrated circuits - Testing , Digital integrated circuits - Design and construction

رده :
TK
7874
.
A23

6. Digital systems testing and testable design

پدیدآورنده :

موضوع : ، Digital integrated circuits-- Testing,، Digital integrated circuits-- Design and construction

۶ نسخه از این کتاب در ۶ کتابخانه موجود است.

7. Digital systems testing and testable design /

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع : Digital integrated circuits-- Design and construction.,Digital integrated circuits-- Testing.,Digital integrated circuits-- Design and construction.,Digital integrated circuits-- Testing.

رده :
TK7874
.
A23
1990b

8. High-level test synthesis of digital VLSI circuits

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)

موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction-- Data processing,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing,، Computer-aided design,، Digital integrated circuits-- Testing-- Data processing

رده :
TK
7874
.
75
.
L44
1997